技術(shù)文章首頁 > 技術(shù)文章 > 全部文章
泰勒霍普森粗糙度儀DUO測量信息
點(diǎn)擊次數(shù)：23 更新時間：2025-07-03 打印本頁面 返回
一鍵操作即可快速獲取多項(xiàng)粗糙度參數(shù)，包括 Ra（輪廓算術(shù)平均偏差）、Rz（微觀不平度十點(diǎn)高度）、Rp（輪廓最大峰高）、Rv（輪廓最大谷深）、Rt（輪廓最大高度）等基礎(chǔ)參數(shù)，還支持 Rz1max、Rsk（偏斜度）、Rq（均方根偏差）、Rku（峰度）及 P 系列（輪廓曲線）參數(shù)（如 Pa、Pz 等），滿足多場景測量需求。
采用接觸式測量技術(shù)，核心部件為耐磨金剛石測針與精密機(jī)動驅(qū)動裝置。測針在電機(jī)驅(qū)動下沿被測表面移動，高靈敏度壓電傳感器實(shí)時捕捉測針垂直位移，將機(jī)械運(yùn)動轉(zhuǎn)化為電子信號；經(jīng)數(shù)字化處理后傳輸至微處理器，通過標(biāo)準(zhǔn)化算法計算出表面粗糙度參數(shù)，實(shí)現(xiàn)高精度測量。
