技術文章首頁 > 技術文章 > 全部文章
泰勒霍普森金屬表面粗糙度儀DUO信息
點擊次數(shù)：249 更新時間：2025-04-26 打印本頁面 返回
泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC DUO測量原理
金剛石測針與驅(qū)動裝置
采用耐磨的金剛石測針部件和精密機動驅(qū)動裝置，確保測針沿被測表面水平移動時行進距離的準確性。壓電傳感與信號轉(zhuǎn)換
當測針劃過表面波峰和波谷時，高靈敏度壓電傳感器會檢測測針的垂直位移，并將機械運動轉(zhuǎn)換為電信號。數(shù)字化處理與參數(shù)計算
電信號經(jīng)數(shù)字化處理后傳輸至微處理器，通過標準化算法（如ISO 4287）即時計算出Ra、Rz、Rp、Rv、Rt等粗糙度參數(shù)。
泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC DUO
其他核心功能與技術特點
藍牙無線通信
驅(qū)動裝置與顯示/控制單元之間采用藍牙技術實現(xiàn)快速可靠的數(shù)據(jù)傳輸，支持5米范圍內(nèi)遠程操作。分體式設計
通過滑軌和鎖定裝置分為顯示/控制單元與驅(qū)動單元，便于測量狹小空間或復雜位置。
